產(chǎn)品簡(jiǎn)介

東莞科迪KD-150L兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

東莞科迪KD-150L兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

一、產(chǎn)品概況：

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)基本的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)JI高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。

滿足的試驗(yàn)方法：GJB150.5-86  溫度沖擊試驗(yàn)，符合MIL，IEC，JIS規(guī)范。

二、用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

三、冷熱沖擊箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。

2.GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。

3.GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。

4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。      

6.國(guó)標(biāo)GJB150.3-86；

7.國(guó)標(biāo)GJB150.4-86；

8.國(guó)標(biāo)GJB150.5-86；

三、技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍：-40℃～150℃

   高溫箱： +60℃～150℃    

   低溫箱： 0℃～-45℃；

2、溫度波動(dòng)度：±2℃;

3、溫度誤差：±2℃;

4、升溫速率：從常溫～150℃≤50min；  

5、降溫速率：從常溫～-45℃≤60min;  

6、制冷下限溫度：≤-45℃;  

7、沖擊溫度：+150～-45℃;

8、工作室尺寸：600mm×420mm×610mm; （寬×高×深）

9、外形尺寸： 約1390*2120*1820mm;  （寬×高×深），具體以實(shí)物為準(zhǔn)

10、 電源：380V±38V   50Hz±1Hz

11、功率：約16.5Kw

12、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤3min;

13、樣品架承重： 20Kg以內(nèi)。

東莞科迪KD-150L兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱，箱體外壁材料： 不銹鋼板。箱體內(nèi)壁材料：拉絲不銹鋼，要求不能反光。觀察窗：高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃觀察窗一個(gè)(350X250mm觀察窗上安裝照明燈。保溫材料：采用聚氨脂泡沫塑料經(jīng)高溫高壓發(fā)泡將外殼與低溫室連接成一個(gè)整體。樣品室動(dòng)方式：樣品靜置。。